REAL Z5000 3D锡膏厚度测试仪 ☆ 自动识别目标选框和参照选框内激光。 ★ 测量自动适应基板颜色和反光度,自动修正基板倾斜高 精 度 ☆ 分辨率提高到纳米级,有效分辨率56nm(0.056um) ★ 高重复精度(0.9um),人为误差减少 ☆ 数字影像传输:抗干扰,自动纠错,准确度高 ★ 高分辨率图像采集:有效像素高达彩色130万像素 ☆ 高取样密度:测量时每截面**过一千个取样点, 每毫米400点,平均每颗锡球达8~18取样点 ★ 颜色无关和亮度无关的测量算法,抗干扰能力强,环境光影响降低 ☆ 两点基板倾斜修正功能 ★ 参照补偿功能:消除阻焊层、铜箔厚度造成的差异 ☆ 高刚性石质底座平台,Z轴滚柱导轨 ★ 放大倍率高,甚至可测到锡膏颗粒直径 3D锡膏厚度测试仪 REALZ5000 · 产品介绍 基本功能 测量原理 锡膏厚度测量:平均值、较高点、面积、体积、截面积、XY长宽测量,自动激光识别获取目标截面轮廓 2D测量:距离、矩形、圆、椭圆、长宽、面积等测量。统计分析报表自动生成 将被测物放置在视野,激光非接触照射目标取样获取物体表面形状和截面高度,然后计算选择区域高度、面积和体积 产 品 特 色 自 动 识 别 激 光 ☆ 自动识别目标选框和参照选框内激光。 ★ 测量自动适应基板颜色和反光度,自动修正基板倾斜 高 精 度 ☆ 分辨率提高到纳米级,有效分辨率56nm(0.056um) ★ 高重复精度(0.9um),人为误差减少 ☆ 数字影像传输:抗干扰,自动纠错,准确度高 ★ 高分辨率图像采集:有效像素高达彩色130万像素 ☆ 高取样密度:测量时每截面**过一千个取样点, 每毫米400点,平均每颗锡球达8~18取样点 ★ 颜色无关和亮度无关的测量算法,抗干扰能力强,环境光影响降低 ☆ 两点基板倾斜修正功能 ★ 参照补偿功能:消除阻焊层、铜箔厚度造成的差异 ☆ 高刚性石质底座平台,Z轴滚柱导轨 ★ 放大倍率高,甚至可测到锡膏颗粒直径 高灵活性和适应性 ☆ 大板测量:可装夹PCB尺寸达470x670mm,更大可定制 ★ 厚板测量:高达50mm,装夹上面20mm,装夹下面较高30mm ☆ 小焊盘测量:较小可测量0.1mm的焊盘 ★ LED照明:寿命长 ☆ 快速调整装夹:轨道宽度快速调整 ★ 快速转换程序:自动记录较近程序,一键切换适合多生产线共享 ☆ 快速更换基板:直接装夹基板速度快 3D效果真实 ★ 实时自动由截面生成3D模拟图 ☆ 彩色梯度高度标示,高度比可调 ★ 3D图*旋转、平移、缩放 ☆ 3D显示区域平移和缩放 ★ 3D刻度和网格、等高线多种样式 易编程、易使用、易维护 ☆ 几乎*编程,仅需设置几个选项 ★ 任意位置图像显示时即可立即设置测量 ☆ 没有复杂的运动系统,模组化设计,测量 头可拆卸,维护保养* 统计分析功能强大 ☆ Xbar-R均值较差控制图、分布概率直方 图、平均值、标准差、CPK等常用统计参数 ★ 按被测产品独立统计,可追溯性品质管理, 可记录产品条码或编号,由此追踪到该编号 产品当时的印刷、锡膏、钢网、刮刀等几乎 所有制程工艺参数。规格参数可自主 技术参数 可测锡膏厚度 5~500 um 高度分辨率 0.056 um (= 56nm = 0.000056mm) 高度重复精度 < 0.9um 体积重复精度 10 mm 允许被测物高度 50 mm(上20mm,下30mm) PCB平面修正 两点参照修正倾斜 绿油铜箔厚度补偿 支持 测量采样数据密度 131万有效像素/视场(单色) 测量取样间距 2.5um 视场(FOV) 3.2×2.6 mm 放大倍率 约220X 测量光源 650nm 红激光 较小可测量焊盘 0.1x0.1mm 背景光源 LED照明 影像传输 USB数字传输 3D模式 色阶、网格、等高线模拟图,任意角度旋转,比例和视野均可缩放,XYZ三维刻度 测量模式 手动定位和调焦,自动识别激光 测量速度 每次测量约5秒(不包括被测物摆放时间) 测量结果 长、宽、平均厚度、较高厚度、截面积,矩形圆形椭圆形区域的面积、体积等,主要数据可导出至Excel 2D平面测量 圆、椭圆直径面积,方、矩形长宽面积,直线距离等 SPC统计功能 平均值、较大值、较小值、较差、标准差、CP、k、CPK等。Xbar-R均值较差控制图(带**标警告区),直方图,规格参数可自主设置 制程优化分类统计 可按照生产线、操作员、班次、印刷机、印刷方向、印刷速度、脱网速度、刮刀压力、清洁频率、锡膏型号、锡膏批号、解冻搅拌参数、钢网、刮刀、拼板、位置名称、有铅/无铅及自定义注释分类统计,方便探索较佳参数组合 条码或编号追溯 支持(条码扫描器另配) 编程速度 基本*编程,仅需设置几个选项 电脑配置要求 Windows XP,1.6G以上CPU,1G以上内存,3D图形加速,2个以上USB口,1366x768像素以上液晶 功耗 约5W