SAKI 2D 光学外观自动检查机AOI

SAKI   2D 光学外观自动检查机（AOI）
SAKI光学检测设备2D AOI ，采用其*自开发的线性扫描技术 ，利用其先进*创的线性摄像系统与完全同轴垂直落射照明相结合，通过简易的机构，实现了高速、高精度、高可靠性的检查，是在线光学检查设备中较佳的解决方案。
SAKI 2D AOI得益于线性扫描的设计理念，实现了紧凑的机身设计，无论是单轨还是双轨都以同样的装置寛度，实现了单位面积内较高生产率。**的线性扫描设计方式，使得装置在运行中没有任何振动，保证了设备的高精度性，也铸就了设备较低的故障率。
SAKI *自开发的线扫描技术
SAKI 线扫描技术，是快速地进行全基板的扫描，是赛凯智能测试设备的基础技术。赛凯智能采用线性照相机的摄像方式，实现了快速的检查。

其他品牌 AOI 通过一般的测试设备所采用的分段拍摄方式，根据零部件数，基板尺寸改变检查工作，如果进行更细微的检查，则检查时间会大幅度增大。
SAKI 同轴照明无阴影检测
完全同轴落射照明是赛凯智能的*自技术，是在基板全部位置上，对于检查部件从正上方照射同轴光的技术。完全同轴落射照明，不受相邻零部件大小和高低的影响，使得 SAKI 机器能够捕捉到焊端任意角度完全无阴影的影像。
SAKI 高速线性扫描 2D AOI
1）SAKI 通过高精度大口径远心透镜光学系统，结合丰富的算法和*创的完全同轴落射照明，不会漏掉任何检查对象。
2）SAKI 高解析度线性扫描 AOI，可用于任何高速生产线，实现炉前、炉后、综合检查的全自动光学检测机。
3）SAKI 以其丰富的软件支持系统，满足顾客的远程调试、一机多联、条码追索、MES接入，等各种需求，保护顾客的长远投资。
　　                              技术规格
机器型号	BF-Planet-X Ⅱ	BF-Frontier Ⅱ	BF-Tristar Ⅱ	BF-10D
装置特性	单面扫描测试
M 基板，较小元件 01005	单面扫描测试
LL 基板，较小元件 0201	双面扫描同时测试
M 基板，较小元件 01005	双轨、单面扫描测试
M～L 基板，较小元件 01005
分辨率	10 um	18 um / 9 um	10 um	10 um
基板尺寸	60 x 50 ~ 330 x 250 mm	60 x 50 ~ 500 x 460 mm	60 x 50 ~ 330 x 250 mm	单轨道 : 60 x 50 ～ 330 x 460 mm
双轨道 : 60 x 50 ～ 330 x 250 mm
基板翘曲	±2 mm	±2 mm	±1 mm	±2 mm
零部件高度	上面 : 40 mm 下面 : 40 mm	上面 : 40 mm 下面 : 40 mm	上面 : 40 mm 下面 : 30 mm	上面 : 40 mm 下面 : 40 mm
图像扫描时间 (较大尺寸基板)	约5秒	约5秒	约5秒	约8.5秒
主要的检查项目	零部件的有无，位置偏差，横侧站立， 纵站立，表里反转，极性反转，桥接，
异物粘着，没有焊锡，焊锡少，引脚漂浮， 芯片漂浮，圆角异常
基板厚度	0.6 ~ 3.2 mm
照相机	CCD 线性感应器照相机
照明	LED 同轴落射照明
可以连接系
统的选项	BF-Editor	√
BF-RP1	√
BF-Monitor	√
BF-WebTracerII	√
2D 条形码识别功能	√
OK/NG信号输出	√
涂上防湿剂检查	√
设备外形尺寸 W x D x H	600 x 915 x 1270 mm	850 x 1340 x 1230 mm	850 x 1295 x 1130 mm	850 x 1360 x 1380 mm